1、高速串行系统设计的考验以及调试技巧

测量和调试是测试仪器的两大功能。这个主题针对高速串行电路的一些重要基本概念，如抖动，眼图，时钟恢复，加重，均衡，抖动容限等展开深入探讨，帮助工程师理解这些概念的含义以及它们会带来哪些影响，从而合理的运用测试仪器的工具软件来解决和分析问题。还将分享一些很有用的调试工具，帮助工程师提高调试的效率，缩短产品的开发周期。

2、最新半导体器件测试技术与Keithley解决方案分享

作为集成电路设计与制造中最基本的组成部分―半导体器件一直在不断改进以适应高性能，低功耗等要求。随着各种新型半导体材料及器件的出现，半导体器件测试也遇到了许多新挑战。

课程从直流测试测量知识入手，详解经典测试理论与设备。内容涵盖基本器件特性测试，晶圆级可靠性测试（WLR）及功率半导体测试等。总结了最新半导体器件特性测试过程中常见的几类问题，并给出相应解决方案。