2017微纳电子器件可靠性与辐射效应国际研讨会

2017年5月22日~5月24日

中国，成都

如果您对微纳电子器件中与可靠性和辐射效应相关问题感兴趣，并且正在寻找一个最佳机会发表讨论您的观点和结果，那么机会来了！参加微纳电子器件可靠性与辐射效应国际研讨会吧！

【会议背景】

微电子和纳电子元器件是航天器、航空器、浮空器、通信基站、核电站等重要组成，甚至是所有电子产品的基本组成单元，一般包括：集成电路、分立器件、元件等。元器件先进则产品先进，元器件可靠性则产品才会可靠。随着微纳电子器件工艺越来越先进，在可靠性和辐射效应方面的风险越来越高，尤其是在商业航天、传统航天领域。特别地，近期在航空、通信领域也逐渐发现辐射效应导致的不可靠问题。

【会议主题】

研讨会的目标是提供一个展示和讨论可靠性与辐射问题最新进展的论坛，覆盖电子材料、器件、电路、传感器和系统各个领域。讨论范围包括航天、航空或地面应用的耐辐射工艺和设计技术，以及抗辐射、耐辐射鉴定和评价的相关方法。研讨会形式包含报告、海报以及圆桌讨论。

主题包括：

• 电子器件可靠性（新型器件、缺陷、物理机制、仿真等）
  

• 设计可靠性（电路、系统、材料等）
  

• 单粒子效应、电离总剂量效应、位移损伤效应（物理机理、建模仿真等）
  

• 充放电效应及静电放电
  

• 失效特性及分析
  

• 辐射加固技术和方法
  

【组织方】

主办方：中国科学院微电子研究所（IMECAS）、国家自然科学基金委员会（NSFC）、中德科学中心

联合组织方：四川大学、电子科技大学、中国核学会、中国航天科技集团公司、微系统与太赫兹研究中心、豆萁科技、赛思库（CISSCOOL）等

【会议主席团】

吴德馨院士、邱爱慈院士、叶甜春所长、刘明院士、陈伟教授、赵元富教授，以及国际国内著名专家等。

【拟参会代表】

德国、美国、加拿大、英国、荷兰知名高校教授和思科公司等企业代表，欧空局相关专家，国内中科院、清华大学、四川大学、电子科技大学、航天科技集团、航天科工集团、中国电科集团、西北核技术研究所等代表。

【关键时间点】

论文摘要提交截止日期：2017年3月1日

【会议官网】

https://iwrre-mned.csp.escience.cn