当今电子设计人员面临着越来越大的压力，他们需要不断缩短设计时间，丰富产品功能，提高产品能效。推动这种发展趋势的因素，包括延长便携式电子器件中的电池续航时间、物联网以及对功耗更低的“更加绿色的”产品的需求。许多设计正在使用GaN 或SiC 开关器件代替硅FETs和IGBTs。一如既往，产品上市时间压力正不断推动着测试速度加快。

会议日程安排

13:00—13:30 听众签到

13:30—14:00

开场：2018泰克公司最新产品及测试方案介绍

泰克科技（中国）有限公司，全球最知名的测试仪器及测试方案供应商，自1946年成立至今70多年，为加速创新者创新一直作为我们的责任。今天将为您介绍泰克公司最新推出的产品及测试方案，首先是泰克全新平台产品，5 系列混合信号示波器，其高达12Bit 高精度测试，创新的用户交互体验、15.6”高清触摸屏以及 最多 8 条 FlexChannel™ 输入通道，能够应对当前以及未来最严苛的应用挑战。泰克还推出业界第一的全面光隔离的电压探头，为宽禁带半导体GaN，SiC 特性标定提供硬件支持。此外，EMC一致性测试成为工程师非常头疼的问题，为应对越来越严格的测试标准。泰克推出EMCVu：你的EMI/EMC 预一致性测试方案，更好保证一次性通过EMC 一致性测试，节省您的时间和金钱。

14:00—14:45

泰克教育行业实验室解决方案介绍

从基础的电工电子实验室到专业的射频、通信、微波实验室，从微电子到光电，未来实验室建设中，提高实验效率，鼓励创新，资源共享，虚实结合是重要的发展方向。未来实验室将至少具备：网络化控制，集中管理，实验室共享和发展实验慕课的功能。帮助学生更好的为将来就业做好准备，熟悉工程师实验室的工作环境，积极引导学生激发学习和工作兴趣，本部分介绍泰克公司教育实验室解决方案。

14:45—15:00 茶歇

15:00—15:45

AI与CLOUD环境下的高速总线技术演进

随着人工智能AI与云存储CLOUD技术的广泛应用，数据存储和传输的量急剧增长，不断对存储和传输系统提出挑战。这些新技术带来了新一轮的设计和测试测量技术革新。研发和测试工程师们需要开发拥有更高带宽和吞吐量的最先进的高速串行数据总线技术。泰克公司完备的解决方案以应对这些高速串行信号所带来的测试挑战。本讲座泰克工程师将会带来满足大数据时代以高效能运算为核心的多种最新工业标准规范高速串行总线(PCIE/SATA/SAS/USB3/Ethernet/PAM4)的测试方案介绍，并分享AI与CLOUD环境下的高速总线技术测试、验证技巧和实战经验。

15:45—16:30

从应用到方案-吉时利测试测量经典案例和尖端测试

从产品到应用，从应用到方案。这个讲座将Keithley的测试方案分为 半导体，材料，数据采集和电源 四个板块，挑选了常见而经典的测试应用案例及解决方案。例如在半导体模块中，会讲述光电材料和器件特性分析测试方法，例如LD，PD，LED 等器件的LIV特性分析方法，以及FPD，各类先进的面板显示屏的测试和量产方案。Keithley品牌拥有的广泛产品线，如数字源表，万用表，电源，负载，信号发生器，开关，小信号产品等等，能够客制化集成为灵活多样的测试方案；并随着仪表的新产品新特性的不断推出，解决新器件新产品的尖端测试需求。

16:30—16:45

幸运抽奖 会议结束