活动背景传统的ATE测试系统,笨重而且资源扩展成本高,由于目前芯片更新换代非常快,对测试系统的要求也日新月异。为满足新的测试需求,传统的ATE系统往往需要高额的测试工具替换成本,但是我们的开放式PXI架构却可以让客户保有原本的投资,并且以此为基础进行优化,无需淘汰任何设备。开放式PXI架构提供了我们所需的灵活性,借助该架构,我们能够重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的性能需求,而且可以沿用原有的投资设备,而不需要像传统ATE系统那样,除了得淘汰旧设备之外,随着测试系统持续改良,通常还需要高成本、大规模的测试车间重新启动作业。活动详情在本次PXI半导体测试方案技术交流会中,您将了解到: PXI